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慧通测控-TWS耳机微跌测试设备WH-2108-6E 耳机微跌落测试
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慧通测控-TWS耳机微跌测试设备WH-2108-6E 耳机微跌落测试

该设备用于评估产品在重复微高度跌落后对产品性能的影响,适用于耳机等小型电子产品作重复微跌落测试。

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  • 发货地:北京 海淀区
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  • 地   址:
    北京 海淀区 上地东路1号盈创动力大厦E802
产品特性:微跌落测试是否进口:否加工定制:是
品牌:慧通测控型号:WH-2108-6E

产品特点

  • 透明防护罩,实验过程中可观察测试品损坏状况 

  • 推拉挡板方式变换耳机位置可满足不规则样品的跌落测试

  • 料筒封闭式结构,测试过程中样品始终不会跳出测试区域以外 

  • 十个工位一拖五组合,测试效率相对较高

主要功能

  • 自动手动功能 

  • 跌落高度可在一定范围内任意设定

  • 测试频率可设定

  • 可记录跌落次数,掉电可保持 

  • 安全防护功能

技术参数

  • 同时测试产品数量:6pcs

  • 跌落高度:10-200mm可设置

  • 跌落频率:10-30次/分可设置

工作环境和存储环境要求

  • 工作温度和湿度:温度 18℃~30℃,湿度 40%~60% (非冷凝) 

  • 存储温度和湿度:温度-10℃~60℃,湿度 40%~60% (非冷凝)

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